低溫儲試驗(IEC68-2-2)恒溫恒濕試驗(IEC60068-2-3/UL1434)--時恒電子
發布時間:2017/3/23 訪問人數:1539次
在電子電路中,用
NTC熱敏電阻進行溫度補償是因為許多元器件(如線圈、晶體振蕩器、晶體管、液晶屏等)的特性隨著溫度的變化而變化,且具有正的溫度系數。環境溫度的變化會導致電信號的偏移,用NTC熱敏電阻器進行補償后就可以使這些元件在很寬的溫度范圍內正常工作。
恒溫恒濕試驗(IEC60068-2-3/UL1434)
a.試驗條件及方法:
將試驗樣品置于40±2℃,90~95%RH的試驗箱中1000小時±24小時。
目視檢查:零功率電阻,絕緣電阻
b.性能要求
恢復后無肉眼可見的損傷
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
絕緣電阻:R≧100MΩ(500VDC)
冷熱沖熱擊試驗(箱體式) IEC60068-2-14/UL1434
a.試驗條件及方法:
將試驗樣品置于- 40±3℃低溫箱中30min取出于室溫5min,再投入85 ±2℃高溫箱中30min后取出于室溫5min,此為1個周期共計進行1000個周期.
目視檢查:零功率電阻
b.性能要求
恢復后無肉眼可見的損傷
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
低溫儲試驗(IEC68-2-2)
a.試驗條件及方法:
將試驗樣品置于-40±5℃的低溫試驗箱中持續
1000小時±24小時
目視檢查:零功率電阻
b.性能要求
恢復后無肉眼可見的損傷
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
時恒電子(http://www.shiheng.com.cn):
熱敏電阻、
NTC溫度傳感器